光學顯微鏡解決被觀測物體反光的辦法被觀測物體反光通常會出現在工業顯微鏡的使用上，一般來說，金屬工件都會出現反光的問題。比較常見的是金屬表面，焊點，顯微鏡觀察的時候沒有光，看不清楚，有光線，反光的現象馬上就出現，這個問題很頭疼，其實像這樣的問題可以很好的解決，那就是運用顯微鏡上的偏振片，推薦的產品是單筒顯微鏡+CCD+環型光源+偏振片，通過減弱光線的銳度減少反光，同樣也可以調整光照的角度和亮度來調整反光的角度。不同產品的反光解決方法是不一樣的，比如金屬表面，我們可以使用偏振片，焊點我們可以使用不同的光源也就是更換光照角度，還有就是使用同軸光，等等的方法的。光學顯微鏡是比較普遍的一個顯微鏡。廣東Nikon Ci-POL偏光顯微鏡使用方法

光學顯微鏡使用可見光進行照明，用光學透鏡進行聚焦，人眼或者CCD/CMOS相機進行觀察。較基本的明場照明顯微鏡由光源，目鏡，物鏡，載物臺，聚光鏡，光圈等部件組成。收到衍射效應的限制，光學顯微鏡的分辨率極限由極限給出,阿貝極限將光學顯微鏡的分辨率限制在約200納米處。為了提高顯微鏡的成像素質，擴展應用范圍，光學顯微鏡經過不斷的發展改進，已經成為一個龐大的家族。電子顯微鏡以電子束作為光源對樣品進行照明。由于電子的波長有效小于可見光，電子顯微鏡的分辨率相對于光學顯微鏡有效提高，目前已經可以超過50皮米（1皮米等于千分之一納米）。按照工作原理的不同，電子顯微鏡可分為透射電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡，反射電子顯微鏡，連續切片電子顯微鏡等等。這里介紹較主要的透射電鏡以及掃描電鏡。SZX16顯微鏡價位很多顯微鏡名字很類似，但工作原理區別很大。

復消色差物鏡：復消色差物鏡的結構復雜，顯微透鏡采用了特種玻璃或螢石等材料制作而成，物鏡的外殼上標有“Apo”字樣，這種物鏡不僅能校正紅綠藍三色光的色差，同時能校正紅，藍二色光的球差。由于對各種像差的校正極為完善，比響應倍率的消色差物鏡有更大的數值孔徑，這樣不僅分辨率高，像質量優而且也有更高的有效放大率。因此，復消色差物鏡的性能很高，適用于高級研究鏡檢和顯微照相.完善的復消色差物鏡由蔡司制造的.2004年推出了研究級ICCS物鏡是在傳統的平場復消色差物鏡的基礎上進一步校正倍率色差和無應變，增強短波長的透過率，并且增強反差,明顯提高分辨率。

顯微鏡倍數、分辨率、視場范圍、景深和工作距離要求，如何組合才能真正滿足客戶要求顯微鏡倍數通過目鏡物鏡主體來改變，分辨率通過數字、模擬CCD監視器來解決。視場范圍，景深和工作距離根據要求選用不同倍數的目鏡和物鏡。比如有的用戶要求有較大的放大倍數，但工作距離沒有太多要求，則選擇一個放大倍數較大的物鏡。如果用戶要在顯微鏡下進行操作，則必須要選擇小倍數物鏡，來增加工作距離，這時候的倍數要求就只能通過增大攝影目鏡和主機的倍數來實現了。電子顯微鏡可分為透射電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡，反射電子顯微鏡，連續切片電子顯微鏡等等。

透射電子顯微鏡與光學顯微鏡類似，采用高能電子束作為光源，電磁透鏡進行聚焦，利用樣品對電子的散射和透射形成明暗反差來成像，用熒光屏或感光膠片對圖像進行記錄。傳統透射電鏡受到球差影響限制，分辨率在0.2納米左右，而隨著硬件條件不斷發展，現在已經突破50皮米。透射電鏡的局限性在于要求樣品的厚度非常薄，通常不超過0.1微米，對樣品的制備造成了很大的挑戰，同時高能電子以及真空環境可能對樣品產生傷害。掃描電子顯微鏡使用電子“探針”對樣品表面進行掃描，電子束激發樣品表面放出二次電子，并被探測器收集成像。掃描電鏡的分辨率為納米級，通常比透射電鏡要弱。但它不要求對樣品進行切片，可以進行三維成像，而且對真空度要求不高，可以對很多生物樣品進行成像的。聚光鏡為暗視野聚光鏡，使激發光不進入物鏡，而使熒光進入物鏡。廣東二手奧林巴斯SZ61體視顯微鏡費用

光學顯微鏡使用可見光作為光源。廣東Nikon Ci-POL偏光顯微鏡使用方法

數碼顯微鏡的優勢在于儀器的人機工程學設計。由于監控器會直接顯示樣品圖像，用戶可以在保持舒適、放松的直立坐姿的同時，還能即時觀察樣品，并利用軟件分析樣品圖像，保證用戶能以舒適的姿態高效地完成工作。在需要處理高通量樣品，或每天需要在顯微鏡上花費較長時間的情況下，數碼顯微鏡的人機工程學設計就顯得意義非凡了。此外，很多數碼顯微鏡還提供允許存儲多個用戶配置文件的軟件。在多人共用一臺顯微鏡時，這項功能非常有用，憑借這項功能，每個用戶只需選擇自己的顯微鏡配置文件，幾乎無需調節顯微鏡工作臺，即可輕松開始工作。廣東Nikon Ci-POL偏光顯微鏡使用方法