適用于對生物大分子、聚合物等軟樣品進行成像研究特點：對于一些與基底結合不牢固的樣品，輕敲模式與接觸模式相比，很大程度地降低了針尖對表面結構的“搬運效應”。樣品表面起伏較大的大型掃描比非接觸式的更有效。測試優勢：1)低漂移和低噪音水平；2)配置有專有ScanAsys原子成像優化技術，可以簡易快速穩定成像；3)測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；4)溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現出前所未有的高分辨率。；5)全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下提高了掃描速度；6)測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；AFM應用技術舉例：AFM可以在大氣、真空、低溫和高溫、不同氣氛以及溶液等各種環境下工作，且不受樣品導電性質的限制，因此已獲得比STM更為廣泛的應用。 原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應；江蘇原子力顯微鏡測試系統
敲擊模式介于接觸模式和非接觸模式之間，是一個雜化的概念。懸臂在試樣表面上方以其共振頻率振蕩，針尖是周期性地短暫地接觸/ 敲擊樣品表面。這就意味著針尖接觸樣品時所產生的側向力被明顯地減小了。因此當檢測柔嫩的樣品時，AFM的敲擊模式是好的選擇之一。一旦AFM開始對樣品進行成像掃描，裝置隨即將有關數據輸入系統，如表面粗糙度、平均高度、峰谷峰頂之間的最大距離等，用于物體表面分析。同時，AFM 還可以完成力的測量工作，測量懸臂的彎曲程度來確定針尖與樣品之間的作用力大小。淄博原子力顯微鏡測試廠家所以在本系統中是使用微小懸臂（cantilever）來檢測原子之間力的變化量。
AFM液相成像技術的優點在于消除了毛細作用力，針尖粘滯力，更重要的是可以在接近生理條件下考察DNA的單分子行為。DNA分子在緩沖溶液或水溶液中與基底結合不緊密，是液相AFM面臨的主要困難之一。硅烷化試劑,如3-氨丙基三乙氧基硅烷（APTES）和陽離子磷脂雙層修飾的云母基底固定DNA分子，再在緩沖液中利用AFM成像，可以解決這一難題。在氣相條件下陽離子參與DNA的沉積已經發展十分成熟，適于AFM觀察。在液相條件下，APTES修飾的云母基底較常用。DNA的許多構象諸如彎曲，超螺旋，小環結構，三鏈螺旋結構，DNA三通接點構象，DNA復制和重組的中間體構象，分子開關結構和藥物分子插入到DNA鏈中的相互作用都地被AFM考察，獲得了許多新的理解、；
AFM可以用來對細胞進行形態學觀察，并進行圖像的分析。通過觀察細胞表面形態和三維結構，可以獲得細胞的表面積、厚度、寬度和體積等的量化參數等；例如，利用AFM可以對后的細胞表面形態的改變、造骨細胞在加入底物（鈷鉻、鈦、鈦釩等）后細胞形態和細胞彈性的變化、GTP對胰腺外分泌細胞囊泡高度的影響進行研究。利用AFM還可以對自由基損傷的紅細胞膜表面精細結構的研究，直接觀察到自由基損傷，以及加女貞子保護作用后，對紅細胞膜分子形態學的影響。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。
原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）是一種用于研究表面形貌和表面特性的高分辨率掃描探針顯微鏡。它利用微懸臂上的針尖與樣品表面之間的相互作用力來獲取表面形貌和表面特性信息。AFM可以測試各種材料表面的形貌、粗糙度、彈性、硬度、化學反應等特性，廣泛應用于納米科學研究領域。AFM測試的內容主要包括以下幾個方面：1.表面形貌：AFM可以獲取表面形貌的高分辨率圖像，包括表面起伏、溝壑、顆粒大小等特征。這對于研究表面微觀結構、表面處理效果以及材料性能等方面具有重要意義。2.表面粗糙度：AFM可以測量表面粗糙度，即表面微小起伏和波紋的幅度和頻率。這對于研究表面加工質量、材料表面處理效果以及摩擦學等領域具有重要意義。3.彈性：AFM可以測量樣品的彈性，包括彈性模量和泊松比等參數。這對于研究材料力學性能、材料內部結構以及納米尺度下的力學行為等方面具有重要意義。4.硬度：AFM可以測量樣品的硬度，即針尖在樣品表面劃過時所受到的阻力。這對于研究材料硬度分布、材料內部結構以及納米尺度下的力學行為等方面具有重要意義。5.化學反應：AFM可以觀察表面化學反應的動態過程，包括化學反應前后表面形貌的變化、化學反應產物的生成等； 掃描時，懸臂施加在針尖上的力有可能破壞試樣的表面結構，因此力的大小范圍在10-10～10-6N。云南原子力顯微鏡測試多少錢
會使得懸臂cantilever擺動，當激光照射在微懸臂的末端時，其反射光的位置也會因為懸臂擺動而有所改變；江蘇原子力顯微鏡測試系統
原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發明的，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性。江蘇原子力顯微鏡測試系統