JT400軸對準測試系統外觀圖Inframet設計生產的用于測試多傳感器監控系統的MS系列測試系統不僅支持這些監控系統的擴展性測試，也支持軸對準測試。然而，MS系列測試系統是相對昂貴鎬端的測試系統。

JT多傳感器軸對準測試系統是相對經濟的系統，用于**的軸對準測試以及光電多傳感器監控系統的基本參數測試。測試功能：1.不同視場的熱像儀的軸對準；2.不同鏡頭焦距的可見光-近紅外相機的軸對準；3.可見光-近紅外相機與熱像儀之間的軸對準；4.激光測距機與可見光-近紅外相機之間的軸對準；5.激光測距機與熱像儀之間的軸對準；6.激光指示器與可見光/近紅外相機以及熱像儀之間的軸對準；7.可見光/近紅外相機的分辨率/靈敏度；8.熱像儀的分辨率；9.激光測距機的發散角；10.參考光軸與參考機械軸(平面)的對準誤差。 熱成像新突破，基數參數智能校準，讓夜間監控更加清晰、更加智能！江蘇熱成像校準系統使用

NIGHTMET – 像增強器模擬軟件，是用于模擬像增強器在采用顯微鏡對于像增強器的一部分在不同的亮度等級下進行分辨率測試過程的模擬，用戶可以對亮度進行調節用于模擬黑暗的夜晚環境與明亮的白天環境，另外，用戶可以通過模擬器的像增強器列表來改變像增強器的類型，我們提供了五種不同質量等級包括分辨率，MTF，SNR，EBI等參數的像增強器。因此，我們可以對不同像增強器生成的圖像進行對比以及進而分析不同參數對于圖像質量的影響。NIGHTMET主要針對測試系統的操作者對于像增強器的分辨率參數的測試培訓。甘肅熱成像校準系統哪個好熱成像新飛躍，基數參數精細校準，夜視能力再提升！

MS多波段整機測試系統一系列不同的輻射源可以用在投影系統中（光譜范圍擴展到SWIR的光源或者MTB黑體）以及一系列SWIR用于投影系統中的靶標也可用于測量。

測量成像整機系統軸校準：電控的測試系統生成由被測試熱像儀及相機生成的圖像并計算兩者之間的角度：a)熱像儀在不同視場下的光軸；b)相機在不同鏡頭放大率下的光軸；c)熱像儀與相機之間的光軸。激光系統軸對準：計算機控制的測量系統分析激光系統在激光敏感卡上生成的圖像并計算光軸間的夾角：激光光軸（激光測距儀，激光指示器，激光照射器等）相對于成像系統光軸。注意：MS系統可以進行激光測距儀發射光軸的校準。這里假定激光測距儀發射光軸與接收已經調整好。這里可選測量激光測距儀的光軸對MS系統軸的能力。

測量SWIR相機：SIWR投影系統與圖像分析計算機系統相結合來測量SIWR相機。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一組SWIR靶標；測量不同圖像格式的熱像儀：當采用模擬視頻采集卡并且測量分辨率小于等于756×576的25Hz的視頻圖像時；也可以選擇數字圖像采集卡（CameraLink,或GigE，或LVDS，USB2.0）作為測量高分辨率高幀頻的數字輸出傳感器。

Inframet生產的離軸反射式平行光管采用垂直結構，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方。這種類型的平行光管實現了測試系統的簡單化結構設計（只需較小、較窄的光學平臺）。而且，垂直結構的平行光管更為先進之處在于系統用于熱像儀的測試時，垂直結構的黑體溫度的均勻性要優于使用相同模塊的水平結構。

Inframet使用三個等級的離軸反射鏡面：?SR（標準分辨率）-制造精度PV不低于λ/2在λ=630nm。?HR（高分辨率）-制造精度PV不低于λ/6在λ=630nm（典型λ/10）。?UR（超高分辨率）-制造精度PV不低于λ/10在λ=630nm。?SQ（極高分辨率）-制造精度PV不低于λ/14在λ=630nm。Inframet采用典型的保護鋁鍍膜作為反射鏡的鍍膜材料，如果在可見光-近紅外波段達到均勻的反射率，則保護鋁鍍膜可以作為次反射平面鏡或者兩面反射鏡的鍍膜材料。如果在遠紅外波段需要達到非常高的反射率則需要使用保護金作為輔助鏡（或者兩個反射鏡）的材料。我們可以根據您所需口徑和焦距精度等提供定制化平行光管，滿足您的需求。 精確熱成像，基數參數智能調整，守護安全每一刻！

SIM簡易熱像儀測試系統是一款經濟、實用的手動切換靶標的圖像投影系統，由5個模塊組成：標準品質的CDT離軸反射式光管（不適用于長程熱像儀），NSB40黑體，CNSB控制器，TP2靶標槽和一組紅外靶標。SIM一般投射兩種類型的目標的圖像：a)十字靶標的圖像(可提供兩種尺寸)，b)USAF951年靶標的圖像。CNSB控制器可控制NSB黑體的溫度，從而調節投影圖像的熱對比度。由于NSB40中不是一個穩定的黑體，用戶可以調節溫度，但溫度不穩定，且不能準確測量(只提供相對指示)。熱成像新視界，基數參數精細校準，夜視能力再創新高！福建德國進口熱成像校準系統

Inframet DT 熱成像光電測試系統新高度，基數參數精心調校，夜視效果超乎想象！江蘇熱成像校準系統使用

由于以下幾個原因，太赫茲區域黑體的設計是一個技術挑戰：a）需要THz/短波頻譜帶中高吸收率涂層的發射體以確保高發射率；b）由于THz/微波成像儀的低分辨率，所以需要大面積的黑體；c）需要很高的溫度均勻性、溫度穩定性和準確度，以便能夠對THz/微波傳感器進行準確校準。這些黑體的設計基于針對THz范圍優化的特殊澆注材料吸收體涂層，大面積均勻發射面板和控制電子元件。MAB黑體具有不同發射器面積，不同溫度范圍的一系列版本，并針對不同的光譜帶進行了優化。MAB黑體的特征在于具有良好的溫度分辨率、溫度穩定性、溫度均勻性、溫度不確定性和高發射率。所有這些功能使得MAB黑體被用作測試/校準太赫茲/亞太赫茲成像儀或其他這種輻射儀系統中的參考源的理想選擇。江蘇熱成像校準系統使用